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INF25-LP蓋板干涉儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 INF25-LP
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 成都市

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更新時間：2022-08-26 16:30:41瀏覽次數(shù)：934

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產(chǎn)品簡介

INF25-LP蓋板干涉儀產(chǎn)品型號：INF25-LP主要用于手機蓋板、晶體、平行平板等雙面拋光元件的透射及反射面型測試！

詳細介紹

  • 特點
  • 用途
  • 技術(shù)參數(shù)

1.快速檢測，測試時間短；

2.可接入自動化生產(chǎn)線；

3.適應(yīng)多種測試。

手機蓋板、平板玻璃等元件的透射面型檢測；

小口徑平面光學(xué)元件的面型測試。

測量方式：斐索干涉原理

通光口徑：Φ12mm/Φ25mm

測試波長：635nm(半導(dǎo)體激光器)

對準方式：兩點對準

對準視場：±2°

平面標準鏡：材料：石英；面型精度PV：λ/20

相移解相方式：機械相移解相


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