產(chǎn)品簡介 INF100-LP/LS球面干涉儀產(chǎn)品型號:INF100-LP/LS高精度、多品種透鏡的光學(xué)表面面型測量高精度平面光學(xué)元件的表面面型測量給出面型綜合分析,數(shù)據(jù)處理
詳細(xì)介紹 特點(diǎn): 用途: 技術(shù)參數(shù): 抗振動(dòng)1-6X光學(xué)變焦1K*1K高分辨率CCD數(shù)據(jù)采集時(shí)間短兼容標(biāo)準(zhǔn)鏡頭 平面、球面、非球面光學(xué)元件表面質(zhì)量光學(xué)元件透射波前測試光學(xué)材料均勻性計(jì)算光學(xué)系統(tǒng)像差分析成像系統(tǒng)輔助裝調(diào) 測試結(jié)構(gòu)斐索干涉臥式結(jié)構(gòu)測試光源進(jìn)口氦氖激光光源,λ=632.8nm測試口徑φ100mm(4″)數(shù)字高速相機(jī)分辨率: 1K×1K pexil,幀速:90Hz光學(xué)變焦1-6X光學(xué)變倍調(diào)焦調(diào)焦光瞳±3.5m對準(zhǔn)方式兩點(diǎn)對準(zhǔn)對準(zhǔn)視場±2°解相方式機(jī)械相移解相電腦DELL品牌電腦操作系統(tǒng)Windows 10系統(tǒng)軟件QPS快速采樣相移分析系統(tǒng)輸出數(shù)據(jù):峰谷值(PV值)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(RMS)、等高圖、三維立體圖、干涉條紋圖、X-Y剖面圖、MTF光學(xué)傳遞函數(shù)、PSD功率譜密度、PSF點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)、波前梯度等;其他功能:數(shù)據(jù)保存、數(shù)據(jù)打印、測量區(qū)域圖形的設(shè)定;數(shù)據(jù)格式:.dat,XYZ等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式 。擴(kuò)展功能:子孔徑拼接測試標(biāo)準(zhǔn)鏡PV值:λ/20;通光口徑:Φ100mm,行業(yè)通用卡口結(jié)構(gòu)系統(tǒng)重復(fù)性精度RMS:λ/1000尺寸664*300*394mm重量約35kg
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